X射线衍射仪( Ultima-III)样品结构分析测试
参考价 | ¥ 65 |
订货量 | ≥1个 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 北京泰克来尔科技有限公司
- 品牌 Rigaku/理学
- 型号
- 产地 日本
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2021/8/6 11:55:20
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产品标签
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价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 多晶衍射仪 |
---|---|---|---|
应用领域 | 化工,地矿,建材/家具 |
利用X射线衍射仪( Ultima-III)进行样品结构分析测试,
具体包括下列内容
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
仪器参数如下:
X射线发生器:3kW 或9kw
靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选
侧角仪部分
测角仪半径:300mm
X射线发生器:3kW 或9kw
靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选
侧角仪部分
测角仪半径:300mm