X射线衍射仪（ Ultima-III）样品结构分析测试

利用X射线衍射仪( Ultima-III)进行样品结构分析测试，

具体包括下列内容

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析

仪器参数如下：

X射线发生器:3kW 或9kw

靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选 

侧角仪部分 

测角仪半径:300mm

X射线发生器:3kW 或9kw

靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选 

侧角仪部分 

测角仪半径:300mm