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SR Series 光谱反射仪

具体成交价以合同协议为准
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光谱反射仪仪器

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


First-Nano System GmbH 

  • 2003年          创立于德国德累斯顿工业大学(Dresden University of Technology)

  • 2008年          香港成立德国韦氏纳米系统(香港)有限公司   

  • 2015年          上海成立德国韦氏纳米系统(香港)有限公司中国代表处,负责中国区业务

  • 2018年          深圳正式成立韦氏纳米系统(深圳)有限公司,更好的为中国南方区市场

     

德国韦氏纳米系统成立以来,一直为客户想的更多,Thinking more !!!

 

产品范围:

薄膜沉积/Thin Film Deposition 
E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
刻蚀/Etching
RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
薄膜制程/Growth
ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
表面处理/Surface Treatment
Ion Beam, PIII, Plasma Cleaner, RTP
清洗/Cleaning
- Dry: Ion Beam, Plasma Cleaner
- Wet: Megasonic, 杜邦EKC清洗液
其他/Other,
Device Testing System for Space Simulation, Heated Platens, Plasma Sources, Resist Stripping Systems

等离子清洗机,均胶机,薄膜沉积,刻蚀

光谱反射仪(SR)系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。

 

SR 系列特征:

  • 简单易操作                        

  • 系统性能基于*的光学设计            

  • 基于阵列的探测器系统保证快速测量            

  • 测量薄膜厚度和折射率可达5层            

  • 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱            

  • 可用于实时或在线厚度,折射率的监测            

  • 系统具有全面的光学常数数据库           

  • *的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似(EMA)每个单独的膜。            

  • 可升级到MSP(显微分光光度计)系统,SRM映射系统,多通道系统,大点的·直接测量图案或功能结构 

 

  • 适用于多种不同厚度的基材            

  • 各种附件可用于特殊配置,如运行曲线测量曲面            

  • 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口

 



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