为满足科研与工业领域对温度控制的高精度、高效率需求
我司创新推出「大面积双温区变温台」,以帕尔贴效应为核心控温技术,结合双温区独立调控与大尺寸样品台设计
为材料研究、生物实验、电子测试等领域提供温控解决方案!
一、核心技术亮点
核心技术:帕尔贴效应控温原理
采用帕尔贴效应(热电制冷技术)作为核心控温方案,通过半导体热电模块实现温度调控,具体技术特点如下:
双向控温:通过电流方向切换,同一模块可执行加热或制冷功能,无需独立制冷/加热单元,系统集成度高。
精密控制:采用PID算法PT100铂电阻温度传感器(精度等级:误差≤±0.1℃),构建闭环控制系统。
控温稳定性:±0.1℃(空载条件),温度分辨率:0.1℃。
低干扰设计:无机械运动部件,运行噪音<30 dB(1米距离),适用于光学实验等精密场景。
样品台
温控器+样品台
二、控温性能及详细参数
在空载条件下,产品控温范围达-30℃至80℃,满足高低温实验需求:
控温下限-30℃:
技术实现:多层半导体热电堆叠+强制风冷散热,确保低温稳定性;
典型应用:低温材料力学测试、生物样本冷冻存储、半导体器件低温特性分析。
控温上限80℃:
技术保障:铜质样品台(导热系数≥400 W/m·K)配合主动散热系统,避免热累积;
典型应用:电子元件高温可靠性测试、聚合物材料热变形研究。
动态性能:支持≤10℃/min的温变速率,适用于温度循环测试(如-30℃↔80℃)。
三、典型应用领域
生物医学:
双温区细胞培养(如温度梯度下的基因表达研究);
酶活性温度依赖性实验。
材料科学:
半导体器件(如SiC、GaN)-30℃~80℃下的电学性能测试;
锂电池电解液低温离子传导率分析。
电子工业:
芯片封装热应力测试(依据JEDEC标准);
高低温循环测试(-30℃↔80℃,500次循环)。
四、产品优势及定制服务
精准控温:基于帕尔贴效应与PID算法,稳定性达±0.1℃(空载)
宽温域覆盖:-30℃至80℃满足实验需求;
双区独立控制:支持非对称温度设定(如左区-20℃/右区60℃)
兼容性:反射式光路设计适配显微镜、光谱仪等光学设备。
支持以下定制需求:
扩展温域(需评估可行性)
样品台材质(如陶瓷、不锈钢)
通讯接口
天恒科仪以精准控温,助力科研工业科技创新!
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