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半导体晶圆缺陷与少子寿命测试系统-SPM900 参考价：300000
半导体晶圆缺陷与少子寿命测试系统-SPM900，PL测试是一种无损的测试方法，可以快速、便捷地表征半导体材料的缺陷、杂质以及材料的发光性能。
半导体缺陷检测：自动化显微成像模组 参考价：200000
半导体缺陷检测：自动化显微成像模组，针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。
深紫外宽禁带半导体荧光测试OminFluo990 参考价：面议
深紫外宽禁带半导体荧光测试系统OminFluo990-DUV，基于我司20年左右的第三代半导体表征测试经验，可以有效地对宽禁带与超宽禁带半导体材料例如AlN和A...
深紫外光电流测试系统DSR300-DUV 参考价：面议
深紫外光电流测试系统DSR300-DUV，通过193的脉冲激光器或者等离子体光源+单色仪的连续193光源，对器件的光电流响应进行测量，测量速度约4KHZ，同时通...
SPM300半导体晶圆应力与载流子浓度检测仪 参考价：面议
卓立汉光SPM300半导体晶圆应力与载流子浓度检测仪，拉曼光谱作为一种非破坏性检测技术，能够高灵敏度地检测材料中的应力状态。其原理基于光与材料内化学键的相互作用...
晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案 参考价：面议
晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案，基于我司自主研发的激光自动聚焦、自动化显微成像、宽场荧光成像、共焦光致发光和拉曼光谱等核心测试技术，联合白光干涉等其它...
晶圆缺陷检测：宽场荧光显微成像模组 参考价：面议
晶圆缺陷检测：宽场荧光显微成像模组，以自动化显微镜模组为基础，针对 SiC 等化合物半导体晶圆位错、层错等缺陷检测需求。
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