半导体缺陷检测：自动化显微成像模组

针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。

产品特性和核心技术：

激光自动聚焦：

·自主研制的激光辅助离焦量传感器。

·可在无图案晶圆上实现精确自动聚焦和表面跟踪。

·辅以图形边缘识别，实现双模式自动调焦。

明场成像和照明系统：

·自主研制的小型化科勒照明系统。

·照明视场均匀、无暗角，成像视场中心和边角均有高对比度和解析度。

全自动操作：

·全软件控制，自动调焦、寻区、切换物镜……

供应链国产可控。