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当前位置:上海途哲电子设备有限公司>>EMC测试仪器>>闩锁测试仪>> 7000B-E/B-L/B-EL日本TET半导体ESD测试仪

日本TET半导体ESD测试仪

参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号

    7000B-E/B-L/B-EL

  • 品牌

    TET

  • 厂商性质

    代理商

  • 所在地

    上海市

更新时间:2023-11-09 16:17:54浏览次数:320次

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应用领域 能源,电子,汽车,电气,综合
日本TET半导体ESD测试仪
该系列测试机台阵容有:
●7000B-E(专用于ESD试验)
●7000B-L(专用于闩锁试验)
●7000B-EL(用于ESD/闩锁试验)

 

日本TET半导体ESD测试仪测试满足:

● 满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准

● ESD波形自动测试

● 对应引脚组合测试

● 高达8kV HBM测试

● 采用高规格电源进行破坏判定

日本TET半导体ESD测试仪ESD试验:

ESD放电波形满足MIL、JEDEC、ESDA、AEC、JEITA标准。本机通过安装在2轴机器人上的ESD脉冲发生EPG模块和继电器矩阵板的组合,使ESD施加引脚和返回引脚能自由设定。由于可以设置复数的ESD的返回引脚,所以可以进行全部引脚组合的ESD试验。可选配示波器、电流探头和衰减器,简单的进行ESD波形的自动测试。

闩锁试验:

可进行电流脉冲(ip),电压脉冲(vp),电源脉冲(vt)和ESD脉冲作为触发源的闩锁试验。      

MODEL 7000B通过输入引脚的上拉/下拉功能和时钟/脉冲图形信号,可以容易的使被测物达到稳定。评价闩锁温度依赖性的高温闩锁试验也可作为选件追加。

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