日本半导体闩锁测试仪 返回列表页

ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。
【闩锁部-满足 JEITA, JEDEC, AEC标准、DUT稳定化功能、输入引脚Max HI/Min LO和时钟/图形发生器为标准配置、可搭载最多10台电源(内部6台和外部4台) 、高温闩锁试验（选件）、动态IC的闩锁试验（可选）。
【ESD/闩锁共用部-引脚数:128、256、512、1024，最多10个相同的被测物连续测试。

日本半导体闩锁测试仪ESD试验：

ESD放电波形满足MIL、JEDEC、ESDA、AEC、JEITA标准。本机通过安装在2轴机器人上的ESD脉冲发生EPG模块和继电器矩阵板的组合，使ESD施加引脚和返回引脚能自由设定。由于可以设置复数的ESD的返回引脚，所以可以进行全部引脚组合的ESD试验。可选配示波器、电流探头和衰减器，简单的进行ESD波形的自动测试。

日本半导体闩锁测试仪闩锁试验：

可进行电流脉冲(ip)，电压脉冲(vp)，电源脉冲(vt)和ESD脉冲作为触发源的闩锁试验。MODEL 7000X通过输入引脚的上拉/下拉功能和时钟/脉冲图形信号，可以容易的使被测物达到稳定。评价闩锁温度依赖性的高温闩锁试验也可作为选件追加。