SEM低温/冷冻真空传输系统 参考价：面议
泽攸科技的SEM低温/冷冻真空传输系统是一款专为扫描电子显微镜（SEM）设计的先进设备，旨在满足在极低温度条件下对样品进行观察和分析的需求，同时确保样品能够保持...
SEM纳米力测量系统 参考价：面议
PicoFemto NI-100扫描电镜纳米力学样品台是泽攸科技推出的一款专注于材料变形行为和微观失效机制研究的科研设备。该系统作为一款集成化的解决方案，能够精...
PicoFemto扫描电镜原位拉伸台 参考价：面议
PicoFemto扫描电镜原位拉伸台集成了力学拉伸模块以及高温环境模块，可以实现在扫描电镜中对样品原位加热的同时进行拉伸实验。本产品采用新一代的高温拉伸方案，加...
原位MEMS 气体/液体样品杆系列 参考价：面议
泽攸科技原位MEMS气体/液体样品杆系列是一种基于MEMS芯片技术的创新型透射电镜（TEM）样品杆，专为在气体或液体环境中进行原位测量而设计。该系列产品通过在标...
冷冻样品台 参考价：面议
PicoFemto系列扫描电子显微镜冷冻样品台基于液氮低温制冷技术，温度范围：-160℃至80℃。
液体样品台 参考价：面议
PicoFemto系列扫描电镜液体样品台，基于MEMS芯片封装及电学芯片技术，实现扫描电镜内原位液体-电化学实验。
原位加热台 参考价：面议
PicoFemto系列扫描电子显微镜原位加热台基于MEMS加热芯片技术，温度范围：室温至1200摄氏度。
纳米探针台 参考价：面议
SEM纳米探针台由泽攸科技研发，是一款具有高性能的科研设备，特别适用于需要高精度三维空间定位的研究领域。这款探针台不仅具备小尺寸大行程、高精度以及易操作等优点，...
纳米力学台 参考价：面议
PicoFemto系列扫描电子显微镜纳米力学台是动态观察和分析纳米材料力学行为的重要工具。
加热拉伸台 参考价：面议
PicoFemto系列扫描电子显微镜加热拉伸台是动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂的重要工具。
多样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜多样品杆，可一次装载3个标准TEM样品，提高测试效率，减少频繁插拔样品杆对测角台的磨损。
原位MEMS 加热/电学样品杆系列 参考价：面议
原位MEMS加热/电学样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足纳米材料、能源科学及电子器件研究领域对原位动态表征的需求。该系列产品基...
三维重构样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜三维重构样品杆，基于样品端超薄设计，满足大倾角倾转和360度旋转测试需求。
原位冷冻样品杆系列 参考价：面议
原位冷冻样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足材料科学、生命科学等领域对低温环境下样品表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜...
原位多场耦合样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位多场耦合样品杆，结合TEM+STM+MEMS原位技术，通过更换不同类型的原位芯片及探针，在透射电镜中实现光、电、力、热多种原位...
原位加热/电学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
原位光学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位光学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，样品杆内集成光纤，杆末端可外接光源或光谱仪，实现透射电镜内的光电测量或光谱学表征研究...
原位力学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位力学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，集成力测量功能，对样品进行压缩/拉伸过程可实时输出力-位移曲线，支持力-电同时测量。
原位电学测量样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电...
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