该设备采用非接触检测系统，对晶圆的平面度、厚度、粗糙度等进行检测并分类，并完成晶圆标记及数据处理。该设备产能：1片/分钟。该设备主要包含：运动机构：将晶圆放入工...

新型Sneox关光轮廓检测仪在性能，功能、效率和设计方面优于现有的3D光学轮廓仪，是新一代测量系统

ITC57300 MOS管半导体动态参数测试仪-3D光学测量系统VMR可模拟现实环境，规划智能教导扫描路径，避免碰撞击干涉。也可进行离线编成设计路径，避免占用设...

ITC57300分立器件动态参数测试系统-3D光学测量系统VMR可模拟现实环境，规划智能教导扫描路径，避免碰撞击干涉。也可进行离线编成设计路径，避免占用设备的扫...

半导体分立器件动态参数测试仪-3D光学测量系统VMR可模拟现实环境，规划智能教导扫描路径，避免碰撞击干涉。也可进行离线编成设计路径，避免占用设备的扫描排程。

半导体功率器件动态参数测试仪-3D光学测量系统VMR可模拟现实环境，规划智能教导扫描路径，避免碰撞击干涉。也可进行离线编成设计路径，避免占用设备的扫描排程。

芯片推拉力剪切力测试仪 是一种多功能焊接强度测试仪，可执行芯片推拉力和剪切力测试应用。

原子力显微镜 使用调频模式，提高了信号的灵敏度，是一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样高分辨率表面观察图像的产品，无论样品种类（薄膜、晶体、半导体、有机材料...

芯片推拉力剪切力测试仪 是一种多功能焊接强度测试仪，可执行芯片推拉力和剪切力测试应用。

芯片拉力剪切力测试仪 拥有多项功能，应用操作中可执行芯片器件推拉力和剪切力的测试操作。DAGE焊接强度测试仪和DAGE X-ray产品系列，可以用于破坏性和非破...

双面量测探针台（上下点针方式） 龙门式移动平台，与显微镜精微调装置配合，设计结构稳定，可操控范围广，放置样品以及点针操作方便

扫描电镜SEM 公司新推出的一款机型小巧性能优异的钨灯丝电镜，拥有大束流和低球差的物镜和聚光镜设计，配备了高分辨率二次电子探头及高灵敏度五分割背散射探头，具有越...

美国MTI 晶圆几何参数测试仪 晶圆几何参数测量仪产品覆盖手动型、半自动型和全自动型。

晶圆薄膜应力测试仪 样品台可通用于3至8寸晶圆，128L型号适用于12寸晶圆，128G 型号适用于470 X 370mm样品，另可按要求订做；

氦质谱检漏仪 是我公司针对端客户群开发的一款便携式检漏仪，检测精度高、操作便捷、性能稳定，具有较高的灵敏度和快速的反应时间。该设备设计紧凑，占用空间小，方便携带...

非接触影像测量仪 影像测量仪是我们常见的检测仪器。亿辉光电所制造的影像测量仪采用了非接触的没量方式，已成为了精密制造工业在质量检测环节上为重要的精密测量仪器之一...

X光检测系统 是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。

PIND颗粒噪声测试仪 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手...

3D光学测量系统 VMR可模拟现实环境，规划智能教导扫描路径，避免碰撞击干涉· 也可进行离线编成设计路径，避免占用设备的扫描排程· 其任何检...

自动光学检测系统AOI 若元件库建立完整，使用CAD DATA 导入即可完成自动编程。3、还包含了离线编程软件包（包含离线调试功能）