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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池 |
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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
产品简介
详细介绍
日置C测试仪3506-10
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
概要
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
基本参数
测量参数：C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围
C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率：1kHz, 1MHz
测量信号电平：500mV, 1V rms
输出电阻：1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示：LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间
1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能
BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量：260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件：电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1
三年质保
日置C测试仪3506-10