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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子 |
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C
产品简介
详细介绍
日置C测试仪3504-40
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C
概要
高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
基本参数
测量参数：Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度
代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率：120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻：5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示：发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间：典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
注：测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能：BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源：AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量：260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件：电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
三年质保
日置C测试仪3504-40