布鲁克光学轮廓仪ContourX-200 返回列表页

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界*进的操作和分析软件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析，可用于表面粗糙度，RDL进封装工艺厚度等测试。

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200测量与分析功能

·易于使用的界面，可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·*泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

*进计量设备

·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、快速、精度的准确结果。

·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

·ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。

高性能表面计量

·放大倍率无关的Z轴分辨率

·大尺寸的标准视场

·稳定集成防震设计