布鲁克光学轮廓仪ContourX-100 返回列表页

布鲁克光学轮廓仪ContourX-100

ContourX- 100光学轮廓仪为准确和可重复的非接触式表面计量树立新的形象。

该小尺寸系统采用流线型设计,结合了数十年专有的布鲁克白光干涉仪(WLI)创新,可提供2D / 3D高分

辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有*进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦学应用分析。

新一代增强功能包括新的五百万像素摄像头,新的载物台和新的测量模式,提供了更大的灵活性。

布鲁克光学轮廓仪ContourX-100

快速、可重复的三维计量

■与 放大倍率无关的Z轴分辨率

■大尺寸的标准 视场

■高稳定性和重复性的集成防震设计

测量和分析功能

■易于使用的界面， 可快速准确地获得结果

■广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian进封装工艺厚度等测试。

■满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

计量功能

ContourX-100轮廓仪是布鲁克在非接触表面计量、表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和作为的结晶。该系统结合三维白光干涉和二维成像技术在单次测量中实现多种分析。

ContourX-100对于反射率从0.05%到百分一百的各种表面都非常易于测量。

分析与回报

通过上千项自定义分析功能和简易但功能强大的VisionXpressM和Vision64@用户界面，ontourX-100为提高实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种*的硬件和软件组合提供了对高重复性和高通量计量学测量的便捷访问,*超过了同类计量技术。