FT-03A膏体/粉体电阻率测定装置本装置适用于膏体材料、绝缘粉末、颗粒物及其他相关特性物料电阻测量辅助装置，将被测样品装入到固定容积的聚四氟乙烯材料模具腔内，...

粉体流动性测试仪主机 通过测试休止角（安息角）、定质量流速、定体积流速、表观密度、松装比、体积密度、堆积密度及松散密度等数据来评定粉末流动能力；采用多规格可更换...

智能型方阻测试仪大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用。适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜；导电（...

导电布方块电阻测试仪，参照标准GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.GB/T155...

高温双电测四探针方阻测试仪使用说明，采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半...

合金粉安息角测定仪测定方法，将足够满溢料盘的粉尘从漏斗口注入到水平料盘上；测量粉尘堆积斜面与底部水平面所夹锐角，即粉尘安息角。

接触压降测试仪 广泛用于测量开关触点、继电器、汽车开关、汽车线束、压接线端子、连接器、不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降等相关产品之接触电压降...

粉末和颗粒休止角测试仪使用方法，用休止角评价粉体的流动性能，只能表示流动性的好坏，或者用于比较同种粉体因水分和粒度等引起的流动性差别。休止角常用的方法是固定圆锥...

FT-102D粉体综合特性测试仪使用Hausner Ratio豪斯纳比和压缩性指数来评定粉体的流动性，还可以通过休止角或者安息角数据，定质量法和定体积法获得粉体...

锂电池压实密度测定仪操作配置清单,粉末压实密度仪锂离子动力电池在制作过程中.在外力的压缩过程中，随着粉末的移动和变形，较大的空隙被填充，颗粒间接触面积，使原子间...

维生素粉体流动性和密度测量仪，在实际生产科研中，粒子间的粘着力、摩擦力、范德华力、静电力等作用阻碍粒子的自由流动，影响粉体的流动性，粉体难以自然流动常常伴随着，...

化工助剂粉体流速测试仪检测方法，本机采用固定的接料筒配置不同出口孔径之漏斗来解决不同粉体因粉体本身物性而流动性差，无法流动现象

谷物粉末流动性测试仪样品检测， 粉体的流动性测量在粉体工程设计中应用范围很广，粉体的流动性对其生产、输送、储存、装填以及工业中的粉末冶金、医药中不同组分的混合、...

双电四探针方阻测试仪分析方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料四...

硅片四探针电导率测试仪操作方法，参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.

导电性薄膜方阻测试仪测定方法，按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率...

四探针方块电阻测试仪怎么用，软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度

涂层四探针电阻率测试仪现货，参照 GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及US...

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤， 改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...

高温电阻率测试系统数据管理，高温电阻率测试系统 生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量。用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗...