FT-335四探针电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计，符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、...

多功能四探针/四点探针测试仪 很流源输出，可同时显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率；人体工程学设计...

金属薄片低阻双电四探针测试仪，是目前同行业中能测量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校...

高温四探针测试仪现货，采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过良...

高温四探针电阻测试仪，该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，...

金属薄膜四探针电阻率测试仪可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻）...