智能型方阻测试仪大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用。适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜；导电（...

导电布方块电阻测试仪，参照标准GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.GB/T155...

导电性薄膜方阻测试仪测定方法，按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率...

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤， 改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...

FT-340系列方阻测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装...

方块电阻仪安装步骤适用范围：适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电...