三环电极测量体积电阻率测试仪，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。...

材料高温表面和体积电阻率测试系统厂家，由测试电阻率系统与高温试验箱结合配置的高温测试探针治具，满足绝缘材料在高温状态下，因温度变化对电阻值变化之表面和体积电阻率...

方块电阻仪安装步骤适用范围：适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电...

导电性薄膜方阻测试仪测定方法，按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率...

导电布方块电阻测试仪，参照标准GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.GB/T155...

四探针薄膜电阻率测试仪，半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方...

石墨电导率测试仪测量范围，四探针测试法测量碳素材料，石墨等块状棒状及粉末材料常温下高导电性能。该仪器采用高精度恒流恒压源，自动显示电流和电压并根据测试产品特性自...

FT-340系列方阻测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装...

高温四探针测试仪检测方法，采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半导体材料的...

普通四探针方阻电阻率测试仪售后，本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器...

涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪，该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进...

硅晶块方阻电阻率测试仪厂家，本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器...

太阳能电池双电四探针测试仪批发，双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

导电性陶瓷方块电阻测试仪现货，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、并...

涂层四探针电阻率测试仪现货，参照 GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及US...

智能型方阻测试仪大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用。适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜；导电（...

瑞柯微炭素材料电阻率测试仪炭素材料电阻率测试仪计算公式，4.3吋液晶屏幕显示，自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率等数据，选配：如配备软件可，通过软件操控仪...

四探针电阻率方阻测试仪、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口...

四探针涂层电阻率测试仪，配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单...

四探针涂层电阻测试仪，采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...