四探针法方阻计，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 155...

四探针电阻率方阻测试仪、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口...

四探针表面电阻测试仪，液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度...

四探针涂层电阻率测试仪，配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单...

四探针涂层电阻测试仪，采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...

四探针薄膜电阻率测试仪，半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方...

绝缘材料高温表面和体积电阻率测试仪，通过良好的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。

四探针薄膜电阻测试仪，手持式外型结构适用于车间生产、品管抽检，外出、携带测量等要求测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.

四探针膜层电阻测试仪按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1...

四探针膜电阻测试仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电（屏蔽）布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、电阻测试

高温电阻率测试仪原理、概述：采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱结合配置的高温测试探针治具，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过良...

粉末振实/拍击/敲击密度测试仪一、研教概述：提供中英文合一操作薄膜面板，自带数据处理功能，并配备打印机输出数据，配置四种规格测试量筒满足不同物料密度的测量；振幅...

FT-100DA振实密度仪广泛用于各种金属粉及稀有金属粉、合金粉或金属氧化物粉末，各种非金属粉；如电池材料等。每组测试结果自动计算，并配备热敏打印机，直接打印出...

粉体颗粒密度测试仪，配备自动计算功能和打印机系统，具有密码设定功能，存储功能，平均值计算功能，能打印出测试时间（年月日时分秒）质量、体积、振实密度值，平均值及测...

斯柯特斯考特斯科特容量计依据GB/T 1479.2-2011 金属粉末 松装密度的测定 2部分：斯柯特容量计法代替国标GB5060—85（金属粉末松装密度的测定...

FT-3400粉体流变分析仪，通过自动控制的荷重施加于剪切盖上；并作用于已知速度转动的环形剪切盒内样品上，从而实现样品与样品在不同压力下流动，预固结处理；瞬态剪...

浙江粉末流动性分析仪检测范围，分析粉末和颗粒物料休止角（安息角），堆积密度（松散密度或者体积密度），振实密度（用时间表示或用次数表示）数据来反应粉体和颗粒的流动...

微电脑型粉体振实密度测定仪，将粉末量筒固定在机械振动装置上，振动电机带动机械振动装置上下振动，装有粉末的刻度试管随机械振动装置而发生有节拍的振动，随着振动次数的...

粉体剪切仪，描述流动行为表征，粉体工业在加工、存储、运输、料仓中常出现拱架/鼠孔结构；物料之间及物料与固体壁面的摩擦；在料斗的设计中，排料口的大小、料斗壁的倾斜...

普通型振实密度计，合金粉或金属氧化物粉末，各种非金属粉；如电池材料等；其它粉末：如土壤、染料、医药、农药、磨料、涂料、食品添加剂、催化剂、水泥、河流泥沙等的粉体...