低阻双电四探针测试仪可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产...

高阻四探针测试仪 本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理...

高温双电测四探针方阻测试仪使用说明，采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半...

双电四探针方阻测试仪分析方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料四...

硅片四探针电导率测试仪操作方法，参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.

高温四探针电阻率测试仪样品检测， 采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控。用于：企业、高等院校、科研部...

涂布层四探针测试仪计算公式，本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测...

双电四探针电阻率详情介绍，本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配...

双电测电四探针方阻电阻率测试仪参数，本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针...

薄膜方块电阻率测试使用说明，本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置...

普通四探针方阻电阻率测试仪软件操作，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安...

普通四探针方阻电阻率测试仪现货，本机配置232电脑接口及USB两种接口。本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料...

导电涂层四探针方阻电阻率测试仪，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、...

PCB铜箔膜四探针方阻电阻率测试仪，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法...

高温四探针电阻测试仪，该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，...

涂布层四探针电阻率测试仪操作手册，采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和...

导体粉末电阻率测试仪计量方法，本仪器本仪器采用四探针测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体粉末材料和半导体粉末材料质量的一种重要的工具液晶显...

金属薄膜四探针电阻率测试仪可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻）...

四探针方阻电阻率测试仪检测范围，四探针组合双电测量方法，2.液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.

金属涂层四探针方阻电阻率测试仪使用方法，参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.GB/T1551-...