FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种...

金属薄片低阻双电四探针测试仪，是目前同行业中能测量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校...

方阻仪/方块电阻测试仪:大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用.适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜...

FT-330四探针电阻率测试仪工作原理范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差

FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种...

方块电阻测试仪操作手册GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

双电测四探针电阻率测试仪，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤...

高温四探针测试仪现货，采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先...

四点探针测试仪，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具

四探针方阻测试仪厂家，配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影...

高温四探针电阻率测试仪通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

四探针方阻仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电（屏蔽）布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆...

四探针法方阻计，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 155...

低阻双电四探针测试仪可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产...

高阻四探针测试仪 本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理...

高温双电测四探针方阻测试仪使用说明，采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半...

双电四探针方阻测试仪分析方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料四...

硅片四探针电导率测试仪操作方法，参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.

高温四探针电阻率测试仪样品检测， 采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控。用于：企业、高等院校、科研部...

金属薄膜四探针电阻率测试仪可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻）...