IOL间歇寿命试验系统HK-IOL-16H 参考价：面议
测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode（小电流器件）进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温...
IGBT/SIC模块功率循环试验系统 参考价：面议
IGBT/SIC模块功率循环试验系统华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方...
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000 参考价：面议
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数： 适用碳化硅二极管、IGBT模块\\MOS管等器件的时间参数测试。
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪 参考价：面议
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系...
MOS管动态参数测试仪ITC57300 参考价：面议
MOS管动态参数测试仪ITC57300ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备，采用测试主机+功能测试头+个性板的测...
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT 参考价：面议
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT华科智源IGBT电参数测试仪，可用于多种封装形式的IGBT的测试，还可以测量大功率二极管、IGBT模块...
IGBT双脉冲测试平台PT-1224 参考价：面议
IGBT双脉冲测试平台PT-1224该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过特制测试夹具的连接，实...
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT 参考价：面议
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT华科智源功率器件测试仪，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，...
博达微FS-Pro半导体参数测试系统 参考价：面议
博达微FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、...
吉时利全自动半导体参数分析仪 参考价：面议
吉时利全自动半导体参数分析仪4200A-SCS参数分析仪加快各类材料、半导体器件和*工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能...
力钛科（Letak）半导体静动态测试系统 参考价：面议
LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准，旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、...
同惠TH511半导体C-V特性分析仪 参考价：面议
同惠TH511半导体C-V特性分析仪TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。TH510系列半导体C-V特性分析仪...
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