SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000 参考价：面议
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数： 适用碳化硅二极管、IGBT模块\\MOS管等器件的时间参数测试。
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪 参考价：面议
HUSTEC-DC-2020分立器件测试仪设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系...
MOS管动态参数测试仪ITC57300 参考价：面议
MOS管动态参数测试仪ITC57300ITC57300是美国ITC公司设计生产的高集成度功率半导体分立器件动态参数测试设备，采用测试主机+功能测试头+个性板的测...
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT 参考价：面议
大功率IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1200A-MT华科智源IGBT电参数测试仪，可用于多种封装形式的IGBT的测试，还可以测量大功率二极管、IGBT模块...
IGBT双脉冲测试平台PT-1224 参考价：面议
IGBT双脉冲测试平台PT-1224该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过特制测试夹具的连接，实...
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT 参考价：面议
IGBT静态参数测试仪HUSTEC-1600A-MT华科智源功率器件测试仪，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，...
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