二次元影像测量仪,2.5次元,二次元测量仪产品介绍: 1. 本机是一种集光学,精密机械,电子测量于一体的精密型长度测量仪器,它通过调节镜头倍率将需测工件放大相应倍数,调节上下光源,把被放大了的工件图象传输到电脑,经过电脑软件的一系列功能处理,达到测量复杂工件的轮廓、表面形状及尺寸、角度和位置,以及精密零部件的微观检测、逆向工程设计等; 2. 可选购RENISHAW接触式探头,作立体工件上的斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔、高度等测量 产品特点: 1. 外形设计美观,内部紧凑,体积小; 2. 三轴CNC控制系统(X/Y/Z全闭环伺服控制系统),定位精度高; 3. 采用自动变焦镜头,结合全自动影像测量软体,固定倍率下无需线性校正; 4. 表面灯采用24相可程控LED冷光源,可对各种复杂工件做表面测量,测量精度更高; 5. 控制柜与机身一体设计,减少机台走线长度; 6. 大理石按照量具标准制定长宽厚尺寸,保证zui基础精度; 7. *无牙丝杆传动,低噪音,消除回程间隙误差,定位更加准确; 8. 限位减速电路板集成设计,便于安装调试; 9. 电机动力线,编码线分离走线方式,降低内部电路干扰; 10. 全鼠标+摇杆控制,可直接完成测量功能; 11. 新版CNC软件,界面友好,操作简单,稳定性强; 12. 具有点、线、圆、两点距离、弧、角度等基本量测功能,座标平移和转换功能; 13. 编程自动测量,可输出SPC管制图。 二次元影像测量仪,2.5次元,二次元测量仪规格参数: 型号 | XG-VMC3020 | XG-VMC4030 | 测量行程 | X300×Y200×Z200mm | X400×Y300×Z200mm | 操作方式 | 四轴全自动,鼠标+摇杆控制 | 测量精度 | X、Y轴E2=(3+L/200)µm;Z轴E1=(5+L/200)µm*标注 | 重复精度 | X、Y轴≤3µm;Z轴≤5µm | 移动速度 | X、Y轴Max.350mm/s;Z轴Max.200mm/s | 框架结构 | 高精度花岗石 | 光源系统 | 可程控LED冷光源 | 影像系统 | 工业高分辨率SONY 1/3″彩色CCD | 变焦物镜 | 美国NAVITAR 6.5:1自动变焦镜头模组 | 放大倍率 | 光学放大倍率:0.7~4.5X;影像放大倍率:22~145X | 编码器 | 英国RENISHAW开放式光学尺 | 光学尺分辨率 | 1µm | 承重 | 25Kg | 软件输出格式 | Word、Excel、DXF、SPC | 外形尺寸 | 约W835×D920×H1210mm | 约W935×D1020×H1210mm | 重量 | 约120Kg | 约150Kg | 电源 | 1∮ AC110/220V 50/60HZ 240W |
* L为被测长度,单位:mm 主要配置: 1. CCD:日本SONY原装41万像素高清晰彩色CCD 2. 镜头:全自动Navitar变焦镜头6.5:1 3. 马达:日本COOLMUSLE伺服马达 4. 光栅尺:英国RENISHAW反射式金属带状光栅尺 5. 工作台:00级高精密花岗岩大理石 6. 读数卡:美国雷赛 7. 运动卡:美国雷赛精密量仪控制卡 8. 联轴器:LK5-C26 中日合资 9. 控制系统:美国Galil四轴运动控制系统 ,2.5次元,二次元测量仪灯源特色: 1. 底灯:照亮范围影像视窗*,光均匀; 2. 上灯:两环四项灯,并有一定角度,测量效果更好; 3. 四项灯:四十相灯控制器通用,可轻松更换。 ,2.5次元,二次元测量仪测量软件: 1. 专业适用于全自动光学影像量测仪,提供多种影像量测方法; 2. 提供自动对焦,自动量测高度; 3. 提供公差分析,可进行有效的品管检验; 4. IUI功能:以尽量少的操作步骤来完成测量,使测量方式多元化; 5. 自动编程,批量检测,操作简便省时; 6. SPC可进行有效的品管检验; 7. 图形和数据可存档、打印,并可以转成WORD(*.doc)、EXCEL(*.xls)和AUTOCAD(*.dxf)档案格式输出显示; 8. 具备激光测量模块功能; 9. 界面友好,操作简单,稳定性强。 |