全自动影像测量仪规格参数: 仪器型号 | XG-VMC250 | 测量行程 | X250×Y250×Z200mm | 测量精度 | X、Y轴E2=(3+L/200)µm;Z轴E1=(3.0+L/150)µm*标注 | 三轴重复精度 | ≤3.0µm | zui大移动速度 | X、Y轴=150mm/s;Z轴=50mm/s | 移动加速度 | X、Y轴=250mm/s2;Z轴=110mm/s2 | zui大承重 | 25kg | 仪器尺寸 | 约W800×D840×H1700mm | 仪器重量 | 约300kg | 使用电源 | 1∮ AC220V 50HZ 10A |
* L为被测长度,单位:mm ※ 可选购Renishaw接触式探头,搭配测量软件,可测试立体工件上的斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔、高度等。 全自动影像测量仪机构系统: 1. 悬臂式结构,00级花岗岩底座,确保机构不变形 2. 高精度、低折射率工业光学玻璃测试平台 3. 高精度、高稳定性日本THK直线导轨 导轨直线度:±2µm 4. 高稳定、高精度、低噪音日本黑田(KURODA)滚珠丝杆 5. 高抗扭性日本三木(MIKIPULLEY)联轴器 6. 可选配固定治具,固定或压平测试样品 电控系统: 1. 高稳定性日本松下(Panasonic)AC伺服马达 2. 美国Galil运动控制卡 四轴伺服控制卡 PCI总线 脉冲输出频率:3MHZ 四路编码器输入口频率:12MHZ 8入8出I/O点 zui小伺服更新率:1~2轴:125微秒;3~4轴:250微秒 3. 高分辨率英国雷尼绍(Renishaw)封闭式光栅尺 光栅尺分辨率:1.0µm 4. 雷赛(Leadshine)计数卡ENC7480 32位PCI总线 4轴28位计数器,zui大输入频率5MHZ 5. 计算机:影像测量仪(当前主流配置) 影像系统: 1. 日本索尼(SONY) 1/2″高清晰彩色相机,768×494pixel 2. 美国Navitar全自动变倍镜头Zoom 6000 变倍比率:1:6.5 光学放大倍率:0.7~4.5× 影像放大倍率:28~145×/44~290×(加装2×物镜) 工作距离:34~390mm 3. 工业高速、高清晰天敏(10moons)视频采集卡SDK2000 分辨率:800×600pixel 32位真彩色 60帧/秒 光源系统: 1. 表面灯:自动可控式LED冷光源,五环八区四十相,光投射角度27~75° 2. 轮廓灯:自动可控式LED冷光源,256级可调 软件介绍: 1. 物件区:点、线、圆、弧、椭圆、距离、间距、角度、矩形、槽型孔、坐标系、点云、平面、球、圆柱、圆锥、O型环 2. 方法区:中心点、平分、相切、相交、X轴极大值、Y轴极大值、X轴极小值、Y轴极小值、多点回归、同心圆、垂直、平行、投影 3. 坐标工具:面补正、X轴补正、Y轴补正、平移与旋转、调用机械坐标系、原点补正、X轴归零、Y轴归零、Z轴归零 4. 测量工具区:对焦点、手动点、手动圆、手动弧、椭圆、探针触发、云点、圆、线、zui近边界点、沿线zui近点、弧、中心线等 5. 几何绘图工具区:前视图、右视图、上视图、等角视图、局部坐标系、影像几何绘图、黑白/彩色、zui适缩放比、框选放大、拉近/拉远、旋转、平移等功能 6. 自动变焦系统,避免镜头倍率变换后的影像校正 7. 提供完整几何公差计算,具备完整量测功能,量测数据可存盘并随时输出计算,还可进行SPC统计制程管制 8. 工件测量图形化,图形可存盘、打印并转存CAD图档,编辑点、线、弧、面、亦可多点测定,与产品图纸做偏差比较 9. 影像可通过屏幕显示观察,可任意放大缩小并可转换成几何测量对比 10. 提供影像直接寻像工具,点、线、框、圆、弧都可快速寻边,*去毛边功能,快速去除有毛边或瑕疵的影像,正确取得量测数据 11. 不用再专门为自动检测建立一个教导程序,就所测量的步骤软件可以记录下来,只要点击按钮,即可生成自动步骤的自检程序 12. 强大的三维CAD绘图处理功能,提供窗口,框选窗口,实时立体旋转,缩放,平移等基本视角切换功能 13. 形位公差功能:位置度,直线度,平行度,倾斜度,垂直度,对称度,平面度,真圆度,同心度,同轴度等形位公差设定 14. 输出Word、Excel、AutoCAD文件或SPC统计报表输出,并且具有DXF输入离线编程功能
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