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蔡司Crossbeam 550高分辨率扫描电子显微镜

蔡司Crossbeam 550是一款结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）和新一代聚焦离子束（FIB）的双束扫描电子显微镜。该设备不仅具备出色的成像和分析性能，还拥有优异的加工能力。

蔡司Crossbeam 550通过样品台减速技术（Tandem decel）实现低电压电子束分辨率提升高达30%，使得即使在非常低的加速电压下也能获得高分辨率、高对比度和高信噪比的清晰图像。这种技术对于研究材料的表面结构和性质具有重要意义，可以为用户提供更准确的实验结果。

此外，蔡司Crossbeam 550还具备出色的三维空间分辨率，能够在二维表面成像和三维重构方面提供优异的表现。通过Inlens EsB探测器，该设备可以获取纯的材料成分衬度信息，从而表征不导电样品而不受荷电效应的影响。这使得蔡司Crossbeam 550在材料科学、生物医学和纳米技术等领域具有广泛的应用前景。

在聚焦离子束（FIB）方面，蔡司Crossbeam 550采用了智能的刻蚀策略，使得材料移除速率可提升高达40%。同时，该设备采用了大离子束束流和高达100nA的离子束束流，可以显著节约时间，并获得高分辨率的FIB束斑形状。这使得蔡司Crossbeam 550在样品制备和加工方面具有很高的效率。

蔡司Crossbeam 550高分辨率扫描电子显微镜

总的来说，蔡司Crossbeam 550是一款功能强大、高分辨率扫描电子显微镜，具有出色的成像、分析和加工能力。它适用于各种材料科学和生物医学领域的研究，为科研工作者提供了强大的实验工具。