Cygnus 2薄膜沉积控制器 返回列表页

OLED 应用程序提供*佳测量精度。Cygnus 2薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多不一般的功能，可帮助您实现OLED 过程的*大价值。Cygnus 2 使用我们 ModeLock 频率测量系统，提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量，速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s。Cygnus 2 具有其他石英晶体控制器无可超越的性能、品质和功能，赋予您的过程卓*的可重复性。

功能

1.INFICON ModeLock 技术确保获得很高、极稳定的速率和厚度测量分辨率，即使在速率*低的情况下

2.Auto Z 技术通过自动测定沉积材料的Z比值，可提高厚度测量的精度

3.一个 Cygnus 2 即可同时、单独或以任何组合方式控制超多 6 个来源，无需使用两个或三个控制器

4.彩色 TFT LCD 显示屏使用户很容易看到过程的进展状况

5.10 Hz 测量

6.100ms 样本速率下频率范围为 +/-0.0035 Hz

7.USB 数据存储功能可存储屏幕截图、配方存储和数据记录

8.多个源厚度合计功能

9.测量低密度、低速率材料的平均速率（使用稳定源的低速率 OLED 掺杂材料沉积超多30 秒）

10.Cygnus 2薄膜沉积控制器速率显示分辨率可达0.001Å

11.4 米 XIU 选件能够在大型系统中使用较长的真空传感器电缆

12.无沉积控制允许持续控制源，因为基片可以通过沉积室不断循环

13.6 个标准 DAC 输出和另外 6 个可选输出用于来源控制、速率或厚度监控

14.可选以太网通信

15.符合 RoHS 标准