IQM-233 薄膜沉积控制器 PCI-EXPRESS 卡可使您的 PC 变成薄膜沉积控制器。这种由 INFICON 设计和制造的产品是系统 OEM 或要将薄膜...

美国英福康Guardian EIES 高精度控制器,可将沉积速度控制在 0.1 到 10,000 Å 范围内。它可以操作一个或两个传感器，至多 8 个...

IMM-100 薄膜沉积监测仪，重复通过精 确的速率和厚度监测。保护和增加您的利润 IMM-100是一款采用ModeLock技术构建的沉积监测仪，以zui高的厚...

IMM-200 薄膜沉积监测仪是一款采用ModeLock技术制造的沉积监测仪，以zui高的厚度精度，上佳的测量分辨率和zui低的速率噪声zui大限度地提高再现性...

STM-2 USB 薄膜速率/厚度监测仪STM-2 将 USB 连接的简单与精密测量引擎的精度相结合，在一个结构紧凑、价格便宜的封装内实现所有功能。STM-2 ...

STM-2XM 是一款双通道速率/厚度监测仪，它将高精度与灵活编程相结合，易于操作，价格实惠。多个应用的简单操作，功能丰富，易于使用!

INFICON石英晶片性能表现超卓和可靠，是目前市场上的晶片及苛刻应用的上佳选择；在各种类型的材料、应用和行业中已有超时数百万次工艺生产应用的成功例子。详情请致...

IC/6具有宽广的功能，它可启动抽空过程、控制阀门、启用基片加热器等。这些增强的功能使系统无需配备辅助仪器，从而降低系统的复杂性和成本。IC/6的逻辑与控制功能...

多用途的IC/5 膜厚控制仪 理想地适用于控制多源、多坩埚、多材料或多过程系统的膜层沉积速率和膜厚。IC/5可满足即使Z复杂、Z高要求与特殊应用的需要。它擅长于...

膜厚监测仪SQM160是利用INFICON石英晶体传感技术在镀膜过程中测量沉积速率和膜厚的精密仪器，标准型有两路传感器输入，同时，4路传感器输入可选，具体视用户...

Cygnus 2薄膜沉积控制器在INFICON薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多不一般的功能，可帮助您实现OLED过程的*大价值。Cygnus 2 ...

膜厚控制仪 INFICON, 薄膜镀层控制技术的*者，现在为您提供高生产价值和低拥有成本的先进仪器。 无论您需要控制产品的合格性，或是用于科研项目。INFICO...

膜厚控制仪普及的多层镀膜控制仪INFICON SQC310 系列为您提供其它生产厂薄膜控制仪所没有的性能与特色. 同时可为您的应用选择理想的模式: 顺序镀膜（S...

石英晶体监测仪更小的尺寸、更低的成本，拥有传统QCM的*一样的性能。在测量薄膜沉积速率和膜层厚度中，INFICON新型的Q-podTM传感器是一种外观小巧，成本...