PZ-430D 品智创思 芯片平整度测试仪

品智创思 芯片平整度测试仪简介

通过线激光对芯片有焊锡球及的表面，或者IC上的引脚面进行扫描，采集出三维点集数据，并由软件处理生成工件的3D图形，通过软件算法提取3D图中每个焊锡球的高点或者低点，再用所有高点或者低点生成一个平面，并计算出平面度值即为焊锡球或者引脚共面性。设备采用固定龙门式XYZ三轴运动结构，内部主体框架为大理石，可以保证稳定的力学结构。托盘和被测工件可放在工作台玻璃上，前后运动至测量区域，线扫激光头和视觉物镜组合体可以沿着左右运动扫描测量，并可以上下调焦以便适应不同高度面的测量。

品智创思 芯片平整度测试仪的应用

广泛应用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性检测，机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业，可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测，从而完成自动拾取、自动分选、零件检测、外形测量、过程控制等任务。

产品原理

通过线激光对芯片有焊锡球及引脚的表面进行扫描，采集出三维点云数据，并由软件处理生成工件的3D图形，通过软件算法提取3D图中每个焊锡球或引脚的最高点，再用所有最高点生成一个平面，并计算出平面度值即为焊锡球或者引脚共面性。