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INSTEC XYZ模块化变温探针台 HCP421V-MPS

具体成交价以合同协议为准

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广州领拓(L-Victor)成立于2009年, 是一家致力于材料测试仪器仪表领域,并提供失效分析和可靠性分析整体解决方案的企业。公司秉承着“以诚信为准,以质量为胜,以客户*”的经营理念,为客户提供材料失效分析测试方案、材料物性测试分析方案、材料微观检测分析方案、材料测试领域品牌产品设备、材料测试领域的经验知识共享与交流,以及售前技术咨询、售中合理化方案和售后标准化服务等一整套完善的服务支持,从而大限度的满足用户的需求。

领拓代理的产品有:美国Buehler,美国Wilson,德国Leica,Carbolite*Gero,德国Eltra,德国Retsch,德国Microtrac MRB,加拿大Creaform,德国Memmert,韩国EM科特,荷兰TQC等品牌,拥有50年以上的生产及应用经验。

领拓拥有设备齐全的实验室和强大的应用团队,应用工程师均为材料科班出身,兼具丰富的实践经验,必能为您提供应用解决方案。领拓展示出丰富的技术经验和可靠的商业信用,一直在业界内享有很高的美誉。

领拓业务立足于华南,发展到西南,影响着全国。客户包括事业单位、科研院校及众多领域企业,客户群体涉及的行业包括钢铁、汽车、五金、PCB、电子、塑胶、玻璃、晶体、航天航空、新能源、制药、电厂等等。

领誉同行,拓展未来——领拓将持续以雄厚的实力,重信用、守合同、保质量的决心,向广大客户提供优质的服务和完备的解决方案。
(地址:中国广州市番禺大道北555号天安科技园总部6号楼)







仪器和消耗品

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 电子/电池,钢铁/金属,汽车及零部件,电气,综合
特点与优势

  • mimi型温控探针台,可集成到各种光学设备

  • 可编程控温,涵盖-190℃~400℃

  • 适用 10 mm ~26 mm 晶圆和器件

  • 可抽真空的腔体,亦可充入保护气体使用

  • 独立的四个探针,可从设备外部移动探针进行点针, 

  • 模块化设计,可自由组合

*可升级为8个独立探针
  • 可从温控器或电脑软件控制,可提供软件SDK

  • SMA接头转BNC四探针,手动点针 

*可选三同轴接口
*可做定制或改动
温控参数

温度范围
-190℃~400℃(负温需配液氮制冷)
加热块材质
银 
传感器/温控方式
100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)
30℃/min
最小温控速度±0.01℃/min
温度分辨率
0.01℃ RTD传感器
温度稳定性
±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
软件功能
可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线

电学参数

探针
默认为铼钨材质的弯针探针 
探针座 
可从外部XYZ移动的探针臂
点针
从外部移动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口

默认为SMA接头转BNC

*可增设腔内接线柱(样品接电引线)

样品台面电位
默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口


光学参数

适用光路
反射光路
INSTEC XYZ模块化变温探针台 HCP421V-MPS
窗片
可拆卸与更替的窗片
最小物镜工作距离
8/12 mm (可选) *截面图中WD
上盖窗片观察
窗片范围φ45mm,最大视角±50°  *截面图中θ1
负温下窗片除霜
吹气除霜管路


结构参数

适用样品
26 mm直径 (标准)
样品腔高
4/8 mm (可选)
探针座 

可从外部XYZ移动的探针臂

粗调模式+微调模式,XY粗调20mm
XY微调行程10mm,Z微调 3mm

调节精度10um
气氛控制
真空腔,也可充入保护气体 
外壳冷却
可通循环水,以维持外壳温度在常温附近
台体尺寸/重量
300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg


配置列表

基本配置 真空型台式探针台、mK2000B温控器

可选配件 安装支架、液氮制冷系统、外壳循环水冷系统、显微镜头、防震桌、真空系统、测试源表、三同轴BNC、台面电悬空、样品接电引线

其他可选型号

TP102V-MPS
温度范围 -40℃ ~ 180℃,样品区,40mm*40mm
HCP421V-MPS
温度范围 -190℃ ~ 400℃,样品区 Φ26mm
HCP402V-MPS 
温度范围 -190℃ ~ 400℃,样品区 50mm*50mm
HP1000G-MPS
温度范围 35℃ ~ 1000℃,样品区 25mm*25mm,气密腔室
定制型号
按客户需求定制,最大适用300mm晶圆样品







典型应用


  • 表征薄膜、二维材料、纳米材料和分子/有机材料器件的电性能测试

  • 需要加热块表面电接地、接同轴BNC接口、三同轴BNC接口的

  • 需要钨铼探针、铍铜探针或其他材料的探针的

  • 需要从外部对台体内探针进行XYZ移动的

  • 晶圆、半导体器件、集成电路、印刷电路板、光伏板、LCD/LED测试

  • 测量IV和CV特性、击穿电压、漏电流、电阻、介电常数和二极管效率




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