日本Otsuka大塚ZETA粒径测试系统ELSEneoSE
- 公司名称 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/2/21 14:25:33
- 访问次数 85
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 综合 |
日本Otsuka大塚ZETA粒径测试系统ELSEneoSE-成都藤田科技提供
产品信息
特点
● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)
● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位
● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位
● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位
● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量
● 通过温度梯度功能,可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析
● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析,提供高精度的ZETA电位测量结果
● 可安装荧光滤光器(选配)
用途
非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究,不仅涉及微小颗粒,还涉及薄膜和平板表面的科学研究。
● 新型功能材料领域
- 燃料电池相关(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)
- 纳米生物相关(纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子)、纳米气泡等。
● 陶瓷/着色材料工业领域
- 陶瓷(二氧化硅/氧化铝/氧化钛等)
- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制
- 颜料的分散/聚集控制(炭黑/有机颜料)
- 浆料状样品
- 滤光器
- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究
● 半导体领域
- 异物附着在硅晶片表面的原理解析
- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究
- CMP浆料的相互作用
● 聚合物/化工领域
- 乳液(涂料/粘合剂)的分散/聚集控制,乳胶的表面改性(医药/工业)
- 聚电解质(聚苯乙烯磺酸盐,聚羧酸等)的功能研究
- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究
● 制药/食品工业领域
- 乳液(食品/香料/医疗/化妆品)分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测
- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂(胶束)机能性检测
原理
粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)
由于溶液中的粒子根据粒子的大小在做布朗运动,粒子受到光照射时会得到的散射光。小粒子呈现快速波动,大粒子呈现缓慢波动。通过光子相关法分析这种波动,就可以求得粒度和粒度分布。
分析流程
zeta电位测量原理:电泳光散射法 (激光多普勒法)
对溶液中的粒子施加电场时,可以观察到粒子电荷所对应的电泳动。籍由此电泳速度可以求得ZETA电位及电泳移动度。
电泳散射法将光照射在泳动中的粒子上得到散射光,根据散射光的多普勒位移量求得电泳速度。
因此也被称之为激光多普勒(Laser Doppler)法。
参数
测量原理 | 粒径 | 动态光散射法(光子相关法) |
ZETA电位 | 电泳光散射法(激光多普勒法) | |
分子量 | 静态光散射法 | |
光学系统 | 粒径 | 零差光学系统 |
ZETA电位 | 外差光学 | |
分子量 | 零差光学系统 | |
光源 | 高功率半导体激光器 | |
探测器 | 高灵敏度APD | |
样品池单元 | ZETA电位:标准池 微量一次性池或浓缩池 | |
粒度/分子量:方形池 | ||
温度 | 0~90℃(带温度梯度功能) | |
电源 | 220V ± 10% 250VA | |
尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
重量 | 22Kg |
测量范围
ZETA电位 | No effective limitations(无有效上限) |
电气移动度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
粒径 | 0.6nm ~ 10um |
● 对应范围
测量温度范围 | 0~90℃ |
测量浓度范围 | Zeta电位:0.001~40% 粒径:0.00001%(0.1ppm)~40%*1 |
*1(标准粒子: 0.00001 ~ 10%、牛磺酸: ~ 40%)
日本Otsuka大塚ZETA粒径测试系统ELSEneoSE-成都藤田科技提供