日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测
- 公司名称 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/2/21 14:10:50
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 综合 |
日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供
● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光谱/色度*
*选配功能追加
测量对象
● 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光学材料
- 其他(相位差、椭圆、偏光膜、液晶材料)
仕 样
型号 | RETS series |
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样品尺寸 | 20mm x 20mm ~* |
cell gap测量范围 | 0.1μm ~数10μm |
cell gap重复性 | ±0.005μm |
检出器 | 多通道分光光度计 |
测量波长范围 | 400nm ~ 800nm |
光学系 | 偏光光学系 |
测量口径 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光轴倾斜机构 | -20 ~ 45°、-45 ~ 45°等 |
*也可用于大型玻璃基板(3000mmx3000mm以上)
测量案例
液晶面内分布图
核心特点:
微区测量能力:最小光斑直径3μm,搭配自动XY平台(200×200mm),实现晶圆、FPD(如OLED、ITO膜)等微小区域的精准厚度分布映射。
跨行业适用性:专为半导体(SiO₂/SiN膜)、显示面板(彩色光阻)、DLC涂层等行业设计,支持粗糙表面、倾斜结构及复杂光学异向性样品的分析。
安全与扩展性:区域传感器触发防误触机制,独立测量头支持定制化嵌入,满足在线检测(inline)与实验室研发需求。
日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供