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日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2025/2/21 10:30:49
  • 访问次数 86

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


公司简介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司经营进出口业务7年有余,位于西南地区四川成都;通过不断努力、进步与各类日本、部分欧美品牌建立长期稳定的合作关系,覆盖电子产品、工具、电子元器件、仪器仪表、防静电设备、辅料、自动化设备、非危险性化工产品、机械设备及配件、通信设备。

成都藤田科技供货渠道

因为长期良好的经营环境,获得国内外客户与商社的喜爱,随着互联网的发展建立了专有的网络模式MRO;

坚持以服务客户为主的经营理念、追求客户满意服务为宗旨、礼貌诚信为原则提供客户服务,并以成为客户值得信赖的工业品综合服务商为目标。

MRO两种形式

  1. 超市建立工业品专柜,大型超市也会经营部分工业品,但种类和数量有限。

  2. 网上工业品超市,这种形式配送可为客户大规模找寻产品,使供应商和采购商都实现“进入一个点,得到一大片”连锁效应,有效降低采购商采购成本。

代理品牌:

  1. 日本MUSASHI武藏(点胶机

  2. 日本HOYA豪雅 (UV固化灯,玻璃镜片)

  3. 日本SIGMAKOKI西格玛 (光学元件、物镜等)

  4. 日本YUMEX优美科思(各种疝气灯)

  5. 日本TOKISANGYO东机产业(粘度计

  6. 日本KANOMAX加野(风速仪)

  7. 日本YAMADA雅玛达(隔膜泵)

  8. 日本EPSON爱普生 (机械臂)

  9. ATTEN安泰信 (焊接产品)

  10. 日本TSUBOSAN壶三(锉刀工具)

  11. 日本sakurai樱井(无尘纸

  12. 韩国DIT东日技研(除静电产品)

  13. 韩国HANIL韩一(搅拌机)

优势品牌:

  1. 日本Otsuka大塚电子(晶圆、覆膜测厚仪)

  2. 日本FLUORO福乐(用于晶圆的搬运)

  3. 日本AND艾安得(微量电子 分析天平)

  4. 英国Meech密其(非接触式除尘系统)

  5. 日本SSD西西蒂(防静电设备)

  6. 日本NEW-COSMOS 新宇宙(气体检测仪

  7. YIZOMO一子沫(拉拔机)

  8. 日本FURUPLA富如拉(喷壶)

  9. 日本PISCO匹士克(气动元件

  10. 日本TECHNO特古罗(锡炉)

  11. 日本AMANO安满能(除尘设备)

  12. 日本MALCOM马康(粘度计)

  13. 日本HOZAN宝山(镊子、钳子等工具)

  14. 日本MITUTOYO三丰 (测量器具)

  15. 美国SIMCO思美高(防静电、除尘产品);

成都藤田科技为广大客户提供一体化、全面、优质高效服务。

 

 

 

进出口业务,日本武藏点胶机,日本豪雅检测光源,海康视觉成像,安泰信焊锡设备

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合

日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试-成都藤田科技提供

Smart膜厚仪 vs OPTM显微分光膜厚仪——革新光学测量的双引擎

核心对比与OPTM优势

  1. 技术差异化

    • OPTM系列:基于分光干涉法,结合显微光学系统,实现反射率分析,支持超薄膜(1nm)与复杂多层结构,技术解决透明基板干扰。

    • Smart膜厚仪:侧重便携性与快速筛查,适用于常规单层膜厚测量,但精度与功能扩展性不及OPTM系列。

  2. 应用场景

    • OPTM适用于研发(R&D)与高精度QC,如半导体晶圆、光学滤光片;Smart膜厚仪更适合产线快速抽检。

  3. 性价比优势:OPTM以中型设备成本提供媲美椭偏仪的精度,且操作门槛更低,软件内置NIST校准追溯,确保数据可靠性。



日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试

特长

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的测量位置,实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作,简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的,没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能


测量范围(理论值)

● 粒径0.6nm~10μm

● 浓度范围 0.00001~40%

● 温度范围0~90℃*


规格

型号多检体纳米粒径测量系统
測量原理动态光散射法(光子相关法)
光源高功率半导体激光(660nm、70mW) *1
检出器高感度APD
连续测量最多5个样品
测量范围0.6nm ~ 10μm
浓度范围0.00001 ~ 40% *2
温度范围0 ~ 90℃ (具备温度梯度功能) *3
样品容量四面透光比色皿:1.2mL~、微量比色皿:20μL~
尺寸W240 X D480 X   H375 mm
电压220V 50/60Hz、250VA
重量约18 kg
软件平均粒径解析(累积法解析)
粒径分布解析
(Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法)
粒度分布重叠
逆相关数 残差Plot
粒径监测
粒径表示范围 (0.1 ~ 106 nm)
分子量计算机能
21 CFR Part11对应*4
选配微量样品池(20μL开始対应)、荧光滤光片

*1 本设备划分在激光安全基准(JIS C 6802)的等级内。

*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%

*3 标准glass cell的批量测量的情况。
     一次性cell或连续测量时, 15 ~ 40℃ (不对应温度梯度)

*4 选配功能


测量示例

不同溶剂的5个样品连续测量

日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试

温度梯度机能使用的测定

日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试

可对应宽泛粒径的范围的测量

日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试


日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试-成都藤田科技提供




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