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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>薄膜生长设备>物理气相沉积设备> Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统

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Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 杭州雷迈科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2025/1/26 11:49:11
  • 访问次数 340

联系方式:蒋新浩查看联系方式

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


杭州雷迈科技有限公司(Labmates Technology成立于2010公司致力于实验室*科学仪器和工业专用设备的研发、销售和技术服务,产品应用于新材料、电子、半导体、化工、光伏、玻璃等众多行业及高等院校和科研机构。

公司主营产品包括铁电材料测试仪、宽频介电阻抗谱仪、薄膜压电测试仪、3D轮廓仪、显微CT、光谱分析仪、X射线衍射仪和分光光度仪等分析测试仪器和设备。我们关注科技发展趋势和动态,与时俱进引进新兴功能性材料的分析和表征整体解决方案,已与众多高校及科研院所建立起技术交流和合作关系,以专业应用技术为优势,以产品整体解决方案为己长,为用户提供可靠的产品和有效的服务。

经过团队每一个成员的持续努力和奋斗,公司不断拓展业务范围和知识的边界,稳步发展。专业的销售和技术服务工程师,结合*的产品和诚实守信的经营理念,赢得广大客户的认可。特别在不断涌现的新材料和技术方面,我们紧跟步伐,不断开拓,竭诚为广大客户提供优质的产品和服务!

我们的愿景是通过提供以科学为基础的高品质、新技术的产品和服务,成为*实验室的专业合作伙伴,此正是我们的英文名称“Labmates”之寓意。我们真诚感谢客户的支持,期待分享一个成功的未来。





分光测色仪,铁电测试仪,光学轮廓仪,原子力显微镜,光谱仪,测配色系统等实验室仪器和设备

Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统是一个紧凑且灵活的PVD(物理气相沉积)系统,具备薄膜、纳米颗粒和合金沉积能力。该系统有两种型号:375型(最多可容纳五个源,基底直径可达四英寸)和300型(最多可容纳四个源,基底直径可达两英寸)。由于其体积相对较小,真空腔体的抽真空速度较快,周转时间约为30分钟。

Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统


Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统可兼容多种源,包括磁控溅射源、纳米颗粒源、小型电子束源、热舟源以及原子和离子源。系统可以配置为向上溅射或向下溅射模式。此外,还提供基底旋转、偏压以及最高可达800的加热选项。

真空腔体在英国制造,采用高质量的304不锈钢材质,并配有轻质铝制门。它安装在一个系统机架上,该机架包含控制系统、电源和真空泵。整个系统配备轮子以便移动,并在定位后可锁定脚部以固定位置。

集成的PC和多功能Spectrum软件提供了无缝的用户体验,使客户能够远程控制该系统并运行复杂的工艺配方。

Nikalyte NL-Cube物理气相沉积系统


 

关键特性:

·         可用的源包括磁控溅射源、纳米粒子源、小型电子束源、热舟蒸发源、原子源和离子源。

·         提供向上溅射或向下溅射配置。

·         提供旋转、偏压以及高达800℃的加热选项。

·         周转时间约为45分钟。

·         真空度可达5×10⁻⁷托。

·         系统机架包含控制系统、电源和泵。

·         集成的个人电脑配备Spectrum软件,可实现自动化过程控制、复杂配方和数据记录。

 

The Cube系统配置:

项目

Cube    300

Cube    375

沉积腔尺寸

300×300×300   mm

375×375×375   mm

基础真空度

<1×10⁻⁶

<5×10⁻⁷

溅射方向

向下溅射/向上溅射

向下溅射/向上溅射

样品台

2英寸晶圆,20/分钟旋转,射频/直流偏压和加热至400℃

4英寸晶圆,20/分钟旋转,射频/直流偏压和加热至800℃

抽真空系统

80/秒涡轮分子泵配7.2立方米/小时干式前级泵

300/秒涡轮分子泵配7.2立方米/小时干式前级泵

阀门

手动/自动阀门、快门、直线驱动和抽真空挡板阀

手动/自动阀门、快门、直线驱动和抽真空挡板阀

控制软件

配方驱动过程、电源控制和数据记录

配方驱动过程、电源控制和数据记录

原位监测

石英晶体微量天平用于过程监测和终点检测

石英晶体微量天平用于过程监测和终点检测

源端口

最多4个沉积源

最多5个沉积源

源类型

纳米粒子源、磁控溅射源、小型电子束蒸发源、热舟蒸发源、K型离子源、射频原子源

纳米粒子源、磁控溅射源、小型电子束蒸发源、热舟蒸发源、K型离子源、射频原子源

涂层均匀性

±2%(样品旋转时)

 




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