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化工仪器网>产品展厅>测量/计量仪器>天平衡器>分析天平(<0.1mg)> METTLER梅特勒分析天平XS205DU

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METTLER梅特勒分析天平XS205DU

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郑州伟创检测设备有限公司是一家独立注册、创建、经营的合法性企业,公司专业从事科学仪器代理及实验室整体配套方案制定的商贸服务公司。主要经营:工业检测设备、实验室仪器设备、电工仪表/网络通讯测试、工程/物探/测绘仪器、MRO工业品等商品。我们长期为高校、市政工程、质检、药检、食品检测、机械加工、环境监测站等科研单位和企事业单位提供产品咨询服务及技术支持。自创建以来深受同行和用户的好评与青睐。这正是我们不断寻求新发展经营理念的结晶。

硬度计,试验机,光谱仪,化验设备


参数名称    参数值

量程    双量程1/2称量1)   四角.3mg
可读性    0.01/0.1mg灵敏度漂移    0.0004%
称量值    81/220g灵敏度温度漂移2)   0.00015%/℃
称量值重复性(s)    0.1 mg灵敏度稳定性3)   0.0002%/a
10g重复性(s)    0.02mg典型称量时间4)   6s
线性    ±0.2mg接口更新速率    23/s
秤盘尺寸(mm)    78×731)按照OIML76标准
2)温度范围10 …30℃
3)灵敏度漂洗/年(天平使用后),激活FACT全自动校准技术 
4)包括样品处理时间设置
防风罩有效高度(mm)  

  235

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)  

  263×453×322



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