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化工仪器网>产品展厅>测量/计量仪器>天平衡器>分析天平(<0.1mg)> METTLER梅特勒分析天平XP204

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METTLER梅特勒分析天平XP204

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郑州伟创检测设备有限公司是一家独立注册、创建、经营的合法性企业,公司专业从事科学仪器代理及实验室整体配套方案制定的商贸服务公司。主要经营:工业检测设备、实验室仪器设备、电工仪表/网络通讯测试、工程/物探/测绘仪器、MRO工业品等商品。我们长期为高校、市政工程、质检、药检、食品检测、机械加工、环境监测站等科研单位和企事业单位提供产品咨询服务及技术支持。自创建以来深受同行和用户的好评与青睐。这正是我们不断寻求新发展经营理念的结晶。

硬度计,试验机,光谱仪,化验设备


参数名称    参数值
可读性  

  0.1 mg

称量值  

  220g

重复性  

  正常加载(sd) 0.07mg(200g)

重复性    微量加载 0.005mg(10g)
线性    0.2mg
四角误差    0.25mg(100g)
灵敏度漂移    3x10-6
灵敏度温度漂移(10-30°C)   1x10-6/°C
接口更新速率  

  23/s

天平外型尺寸(W×D×H mm)  

  263×486.5×322

秤盘尺寸(W×D mm)    76×73



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