METTLER梅特勒密度天平XS3DU

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公司名称 郑州伟创检测设备有限公司
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厂商性质 经销商
更新时间 2024/11/13 10:53:28
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郑州伟创检测设备有限公司是一家独立注册、创建、经营的合法性企业，公司专业从事科学仪器代理及实验室整体配套方案制定的商贸服务公司。主要经营：工业检测设备、实验室仪器设备、电工仪表/网络通讯测试、工程/物探/测绘仪器、MRO工业品等商品。我们长期为高校、市政工程、质检、药检、食品检测、机械加工、环境监测站等科研单位和企事业单位提供产品咨询服务及技术支持。自创建以来深受同行和用户的好评与青睐。这正是我们不断寻求新发展经营理念的结晶。

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极限值	XS3DU双量程	典型值	XS3DU双量程
称量值	3.1 g	典型重复性（sd）	0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr
可读性	0.01 mg	典型微分非线性（sd）	√2x(10-12)g?R_nt
称量值	0.8 g	典型微分四角误差（sd）	1.2 x (10?C6)?R_nt
可读性	0.001 mg	典型灵敏度偏移（sd）	3 x (10?C6)?R_nt
重复性(sd) - 加载处	0.006 mg	典型最小称量值*	@ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr
- 低加载（加载处）	0.005 mg (0.2 g)	典型稳定时间	< 6 sec
重复性(sd) - 加载处	0.001 mg	稳定时间	< 10 sec
- 低加载（加载处）	0.0008 mg (0.2 g)	1) 根据OIML R76 2) 在10到30°C的温度范围内 3) 次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性 4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年 * 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置， - 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
线性误差	0.004 mg
四角误差（加载处）	0.005 mg (2 g)

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