牛津仪器CMI900荧光X射线镀层测厚仪

牛津仪器CMI900荧光X射线镀层测厚仪技术参数

主要规格        
X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统
        空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
        标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
        功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
                75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
        装备有安全防射线光闸
        二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统：多可同时装配6种规格的准直器
          多种规格尺寸准直器任选：
                    －圆形，如4、6、8、12、20 mil等
                    －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸：在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
       在12.7mm聚焦距离时，大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构：开槽式样品室
－大样品台尺寸：610mm x 610mm
－XY轴程控移动范围：标准：152.4 x 177.8mm
              还有5种规格任选
－Z轴程控移动高度：43.18mm
－XYZ三轴控制方式：多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制  
－样品观察系统：高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。）
               激光自动对焦功能
                可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置：IBM计算机
                 惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机
分析应用软件        
操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台
分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围：可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能：采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：Ti22 – U92
                可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，
                如Au karat评价
                材料和合金元素分析，
                材料鉴别和分类检测
                液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
                多达4个样品的光谱同时显示和比教
                元素光谱定性分析
－调整和校正功能：系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能：鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式
                  测量位置预览功能
                  激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能：定测量点、连续多点测量、位置预览
－统计计算功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图，数据库存储功能

任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能：Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

牛津仪器CMI900荧光X射线镀层测厚仪特点
●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●服务及支持