Thick800A - X荧光镀层测厚仪

Thick800A - X荧光镀层测厚仪专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　性能特点

　　Thick800A - X荧光镀层测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

　　高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加精准

　　良好的射线屏蔽作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

　　技术指标

　　型号：Thick 800A

　　元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

　　同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析含量一般为ppm到99.9% 。

　　镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　度适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

　　样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg