X荧光镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

　　Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

　　性能特点

　　X荧光镀层测厚仪*稳定X铜光管

　　半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

　　内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品

　　脉冲处理器，数据处理快速准确

　　手动开关样品腔，操作安全方便

　　三重安全保护模式

　　整体钢架结构、外型高贵时尚

　　FP软件，无标准样品时亦可测量

　　技术指标

　　型号：THICK600

　　分析范围： Ti-U，可分析高3层15个元素

　　分析厚度：一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)

　　工作电压：AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)

　　测量时间：40秒(可根据实际情况调整)

　　探测器分辨率：(160±5)eV

　　光管高压：5-50kV

　　管流：50μA-1000μA

　　环境温度：15℃-30℃

　　环境湿度：30%-70%

　　准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm

　　仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380(H) mm

　　仪器重量：30kg