牛津（日立）仪器镀层测厚仪系列

牛津(日立）仪器镀层测厚仪系列1959年创建于英国牛津，是英国伦敦证交所的上市公司，生产分析仪器、半导体设备、超导磁体、超低温设备等高技术产品。2017年7月日立*（HHT）成功收购牛津仪器工业分析部，成立日立分析仪器（HHA）。

随着各大工业化的发展，对于电子元器件、半导体、PCB、FPC、汽车零部件、LED 支架、五金电镀、多个行业对于表面镀层厚度的要求，元素分析，牛津仪器在工业化的要求上研发了测厚仪系列产品，为国内外市场工业解决一个大难题，称为了行业的 先头者。
 

牛津(日立）仪器镀层测厚仪系列
 

牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪
 

1.以更有效的过程控制来提高生产力
2有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
3快速无损地分析珠宝及其他合金
4快速分析多达5层镀层
5经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
6操作简单，只需要简单的培训

牛津(日立）仪器镀层测厚仪系列
 

牛津仪器 FT110 镀层测厚仪特点

通过自动定位功能提高操作性
测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
微区膜厚测量精度提高
通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
广域观察系统（选配）
可从最大250×200mm的样品整体图像测量位置。
对应大型印刷线路板（选配）
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
低价位
与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

牛津(日立）仪器镀层测厚仪系列

FT150 镀层测厚仪特点
 

1．显微领域的高精度检测
通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm（设想FWHM： 17 μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。

2．产品阵容适应各类检测样本

针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择。

测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号

3．兼顾易操作性与安全性
放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。

牛津（日立）仪器一级代理、华南总代理商深圳谱赛斯科技有限公司，坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦，专业从事精密仪器设备销售与维护。专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队，80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等长期提供快捷、优质的售前、售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。