p-100 微光显微镜emmi

参考价	¥ 999999
订货量	≥1

具体成交价以合同协议为准

公司名称 仪准科技（北京）有限公司
品牌
型号 p-100
产地 中国台湾
厂商性质 生产厂家
更新时间 2018/5/4 10:33:19
访问次数 1302

产品标签

微光显微镜emmi 漏电定位元器件失效分析半导体失效分析 IC漏电检测

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公司介绍 主营产品

仪准科技（北京）有限公司是一家专业提供集成电路失效分析及可靠行测试的服务商

主要服务项目：半导体失效分析设备，元器件失效分析可靠性测试

	非破坏性分析
	小型测试机 / 半导体I-V特性曲线仪 / 探针台 / 显微镜观察分析 / 3D X-Ray / 超声波扫描显微镜 /

	破坏性分析
	激光开封 / 手动开封 / 酸自动开封机 / 小型半导体器件铣床 / 微光分析仪 / 光致电分析仪 / 研磨抛光 / 探针台 / 扫描电子显微镜/能谱分析 /

	化学处理
	取晶 / 反应离子刻蚀机 / 码点染色 / 显微照相 / 电子扫描显微镜/能谱分析 /

	聚焦离子束
	微线路修改 / 测试键生长 / 纵向微切片解剖 / 微区刻蚀 /

	可靠性服务
	预处理 / 冷热冲击(TC) / 高压蒸煮加速实验(HAST) / HTRB / 老化实验(Burn in) / 高压高湿实验(SPP) /

	静电测试(ESD/HBM/MM)
	CDM / Latch up / HBM / MM /

	可焊性测试
	沾湿天平(Wet Balance) / 锡须实验(Whisker) /

	研磨/抛光等耗材销售
	Allied / ProbeTips /

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探针台probe，开封机laser decap，红外显微镜，微光显微镜EMMI，IV自动曲线量测仪

光发射显微镜是器件分析过程中针对漏电失效模式，*的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有绝缘缺陷，或者期间经过外界静电击穿，均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电得状态下，内部形成流动电流，漏电位置的电子会发生迁移，形成电能向光能的转化，即电能以光能的方式释放，从而形成200nm~1700nm红外线。光发射显微镜主要利用红外线侦测器，通过红外显微镜探测到这些释放出来的红外线，从而精准的定位到器件的漏电点。我司推出的P-100光发射显微镜(EMMI),在同业中具有超高的性价比,并凭借良好的售后服务,迅速占领市场.目前大中国地区的失效分析客户有: 上海宜硕、深圳宜智发、上海闳康、上海矾诠、广州五所、北京电科院、东南大学、乐山菲尼克斯、深圳明微。。。。。。

微光显微镜emmi元器件失效分析漏电定位热点测试

Junction Leakage Oxide Leakage