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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>集成电路测试与分选设备>探针台>pw-800 手动点针工作站失效分析电性测试探针台

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pw-800 手动点针工作站失效分析电性测试探针台

参考价 ¥ 670000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


 仪准科技(北京)有限公司是一家专业提供集成电路失效分析及可靠行测试的服务商

主要服务项目:半导体失效分析设备,元器件失效分析可靠性测试

非破坏性分析
 小型测试机 / 半导体I-V特性曲线仪 / 探针台 / 显微镜观察分析 / 3D X-Ray / 超声波扫描显微镜 /
破坏性分析
 激光开封 / 手动开封 / 酸自动开封机 / 小型半导体器件铣床 / 微光分析仪 / 光致电分析仪 / 研磨抛光 / 探针台 / 扫描电子显微镜/能谱分析 /
化学处理
 取晶 / 反应离子刻蚀机 / 码点染色 / 显微照相 / 电子扫描显微镜/能谱分析 /
聚焦离子束
 微线路修改 / 测试键生长 / 纵向微切片解剖 / 微区刻蚀 /
可靠性服务
 预处理 / 冷热冲击(TC) / 高压蒸煮加速实验(HAST) / HTRB / 老化实验(Burn in) / 高压高湿实验(SPP) /
静电测试(ESD/HBM/MM)
 CDM / Latch up / HBM / MM /
可焊性测试
 沾湿天平(Wet Balance) / 锡须实验(Whisker) /
研磨/抛光等耗材销售
 Allied / ProbeTips /

探针台probe,开封机laser decap,红外显微镜,微光显微镜EMMI,IV自动曲线量测仪

手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域探针台

        应用领域
●Failure analysis  集成电路失效分析         
●Wafer level  reliability晶元可靠性认证
●Device characterization 元器件特性量测         
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process  monitoring  制成监控         
●Package part probing  IC封装阶段打线品质测试
●Flat panel probing 液晶面板的特性测试         
●PC board probing  PC主板的电性测试
●ESD&TDR testing    ESD和TDR测试         
●Microwave  probing  微波量测(高频)
●Solar太阳能领域检测分析         
●LED、OLED、LCD领域检测分析

手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域

型号:   PW-400                              
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等

手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域

型号:   PW-600/PW-800

规格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y电动移动行程150mm(200mm)
chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
 手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
 RF高频探针台

      

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探针材料:BeCu/Tungsten

 



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