pw-800 手动点针工作站失效分析电性测试探针台
参考价 | ¥ 670000 |
订货量 | ≥1 |
- 公司名称 仪准科技(北京)有限公司
- 品牌
- 型号 pw-800
- 产地 台湾
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2018/5/4 10:23:17
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手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域探针台
应用领域
●Failure analysis 集成电路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性认证
●Device characterization 元器件特性量测
●Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成监控
●Package part probing IC封装阶段打线品质测试
●Flat panel probing 液晶面板的特性测试
●PC board probing PC主板的电性测试
●ESD&TDR testing ESD和TDR测试
●Microwave probing 微波量测(高频)
●Solar太阳能领域检测分析
●LED、OLED、LCD领域检测分析
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
型号: PW-400
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
型号: PW-600/PW-800
规格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y电动移动行程150mm(200mm)
chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
手动点针工作站失效分析电性测试探针台半导体领域
RF高频探针台
东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探针材料:BeCu/Tungsten