X射线电镀膜厚分析仪

X射线电镀膜厚分析仪

【详细说明】

荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，生产力，再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
可测元素范围：
钛() – 铀(U)

可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
压：0-50KV(程控)

主要特点

测量范围宽，可检测元素范围；

可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；

精度、稳定性好；

强大的数据统计、处理功能；

标准片；

简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

Ø主管人员可进行系统维护

Ø系统自动生成操作员的使用记录

Ø自动锁定功能防止未授权的操作

ØZ轴保护传感器

Ø安全防射线光闸

Ø样品室门开闭传感器

ØX射线锁

ØX射线警示灯

Ø紧急停止按钮

Ø前面板安全钮和后面板安全锁

综合性能:镀层分析  
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.  
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

X射线电镀膜厚分析仪