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要更好的推动电子工业发展,标准的力量不容忽视。近日,工业和信息化部根据标准修制订计划,组织完成了《半导体集成电路冲压型引线框架》等14项行业标准和《光伏器件 第2部分:标准光伏器件的要求》等26项国家标准的制修订工作。
序号 | 计划编号 | 标准名称 | 性质 | 代替标准 | 采标情况 |
| 20121245-T-339 | 光伏器件 第2部分:标准光伏器件的要求 | 推荐 | GB/T 6495.2-1996 | IEC 60904-2:2015, |
| 20132173-T-339 | 光缆 第4-10部分:沿电力线路架设的光缆 光纤复合架空地线门类规范 | 推荐 |
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| 20132174-T-339 | 光缆 第4-20部分:沿电力线路架设的光缆 全介质自承式架空光缆门类规范 | 推荐 |
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| 20132175-T-339 | 光缆 第4-30部分:沿电力线路架设的光缆 光纤复合架空相线门类规范 | 推荐 |
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| 20132181-T-339 | 光缆 第7-20部分:室内光缆 多芯光缆门类规范 | 推荐 |
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| 20132184-T-339 | 光缆 第7-50部分:室内光缆 终端光缆组件用单芯和双芯光缆门类规范 | 推荐 |
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| 20141834-T-339 | 金属通信电缆试验方法 第4-12部分:电磁兼容 连接硬件的耦合衰减或屏蔽衰减 吸收钳法 | 推荐 |
| IEC 62153-4-12: |
| 20141835-T-339 | 金属通信电缆试验方法 第4-13部分:电磁兼容 链路和信道(实验室条件)耦合衰减 吸收钳法 | 推荐 |
| IEC 62153-4-13: |
| 20141836-T-339 | 金属通信电缆试验方法 第4-14部分:电磁兼容 电缆组件(现场条件)的耦合衰减 吸收钳法 | 推荐 |
| IEC 62153-4-14: |
| 20141840-T-339 | 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第1部分:一般要求和测量方法 | 推荐 | GB/T 21021-2007 | IEC 62037-1:2012, |
| 20141841-T-339 | 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第2部分:同轴电缆组件的无源互调测量 | 推荐 |
| IEC 62037-2:2012, |
| 20141842-T-339 | 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第3部分:同轴连接器的无源互调测量 | 推荐 |
| IEC 62037-3:2012, |
| 20141843-T-339 | 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第4部分:同轴电缆的无源互调测量 | 推荐 |
| IEC 62037-4:2012, |
| 20141845-T-339 | 电子设备用电位器 第6部分:分规范 表面安装预调电位器 | 推荐 |
| IEC 60393-6:2015, |
| 20141006-T-339 | 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第5部分:平面磁心 | 推荐 |
| IEC 60424-5:2009, |
| 20151501-T-339 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第1部分:定义和一般性能 | 推荐 |
| IEC 62333-1:2006, |
| 20151502-T-339 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第3部分:噪声抑制片的参数特性 | 推荐 |
| IEC 62333-3:2010, |
| 20151503-T-339 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分:测量方法 | 推荐 |
| IEC 62333-2:2006, |
| 20151768-T-339 | 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数 | 推荐 | GB/T 18910.61-2012 |
|
| 20151770-T-339 | 液晶显示器件 第20-3部分:目检 有源矩阵彩色液晶显示模块 | 推荐 |
| IEC 61747-20-3: |
| 20151771-T-339 | 有机发光二极管显示器件 第6-3部分:图像质量测试方法 | 推荐 |
| IEC 62341-6-3: |
| 20160561-T-339 | 微型导热管 | 推荐 |
|
|
| 20173535-T-339 | 平衡车用锂离子电池和电池组 安全要求 | 推荐 |
|
|
| 20171049-T-339 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范--能力批准 | 推荐 |
| IEC 60679-4:1997, |
| 20141071-T-339 | 印制电路用刚性覆铜箔层压板通用规则 | 推荐 | GB/T 4721-1992 |
|
| 20141864-T-339 | 锡焊用助焊剂 | 推荐 | GB/T 9491-2002 | |
序号 | 标准编号 | 标准名称 | 代替标准 | 采标情况 |
| SJ/T 11773-2020 | 半导体集成电路冲压型引线框架 |
|
|
| SJ/T 11774-2020 | 集成电路引线框架电镀银层技术规范 |
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| SJ/T 11775-2020 | 半导体材料多线切割机 |
|
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| SJ/T 11776-2020 | 谐波保护器 |
|
|
| SJ/T 11457.1.3-2020 | 波导型介电谐振器 第1-3部分:综合性信息和试验条件-微波频段介电谐振器材料复相对介电常数的测量方法 |
| IEC 61338-1-3:1999,IDT |
| SJ/T 11457.1.4-2020 | 波导型介电谐振器 第1-4部分:综合性信息和试验条件-毫米波频段介电谐振器材料复相对介电常数的测量方法 |
| IEC 61338-1-4:2005,IDT |
| SJ/T 11460.3.3.1-2020 | 液晶显示用背光组件 第3-3-1部分:电视接收机用直下式LED背光组件详细规范 |
|
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| SJ/T 11777-2020 | 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法 |
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| SJ/T 11778-2020 | 便携式家用电器用锂离子电池和电池组 安全要求 |
|
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| SJ/T 11779-2020 | 印制电路用导热型涂树脂铜箔 |
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| SJ/T 2660-2022 | 锡焊用助焊剂试验方法 | SJ 2660-1986 |
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| SJ/T 10551-2020 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | SJ/T 10551-1994 |
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| SJ/T 10553-2020 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | SJ/T 10553-1994 |
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| SJ/T 10552-2020 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | SJ/T 10552-1994 | |
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