PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
双折射测量仪PA-Micro主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机
双折射测量仪PA-Micro应用领域：
通信光纤
晶体
医学细胞
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
4 | 测量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
6 | 视野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 选配镜头视野 | 无 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 |
测量案例： 
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