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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪特点 1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。 主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tg)和电容量( Cx)以，其测量线路采用“正接法"即测量对地绝缘的试品。 产品型号：BDAT-B所在地：北京海淀上地十街辉煌国际6号楼4层0426室 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街辉煌国际6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质耗损测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街辉煌国际6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：介电常数试验仪主要特点： 空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低。 产品型号：GDAT-A所在地：北京海淀建材城西路50号 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗角测试仪型号：GDAT-A主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区上地十街辉煌国际西6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区上地十街辉煌国际西6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路50号 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪专业供应商，如需请致电详谈。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数(ε)，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品：绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪
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