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材料高频介电常数测定仪
详细摘要:材料高频介电常数测定仪
平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
材料高频、音频介电常数介质损耗测试仪
详细摘要:材料介电常数介质损耗测试仪各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
高频材料介电常数介质损耗测试仪
详细摘要:高频材料介电常数介质损耗测试仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数损耗因数试验仪
详细摘要:介电常数损耗因数试验仪系统由BH916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的Z佳解决方案。
产品型号:GDAT-A所在地:13 参考价:面议
介电常数与介质损耗测定仪
详细摘要:介电常数与介质损耗测定仪工作特性
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
频率范围25kHz~10MHz100kHz~10MHz
固有误差≤5%±满度值的2%≤5%±满度值的2%
工作误差≤7%±满度值的2%≤7%±满度值的2%
频率范围10MHz~60MHz
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介质损耗介电常数试验仪
详细摘要:介质损耗介电常数试验仪例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
高频塑料介电常数测定仪
详细摘要:介电常数介质损耗测试仪装置:
2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数损耗因数测试仪
详细摘要:介电常数介质损耗因数测定仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数测试仪生产商
详细摘要:介电常数测试仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数介质损耗测试仪生产厂家
详细摘要:北广部分产品一览表

产品名称产品型号备注
电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动
体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示
滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料,复合材料
万能拉力试验机WDW金属,非金属材料
介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料
热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶
塑料球压痕硬度计BQY-96液晶
熔体流动
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
生产介电常数介质损耗测试仪
详细摘要:介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述:
电: /
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

概述
A型高频Q表和C型高频Q表主要区别
AC
测试频率范围25kHz~60MHz100kHz~160MHz
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数测试仪价格
详细摘要:◇主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

◇主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数介质损耗因数试验仪
详细摘要:介电常数介质损耗测试仪电感器:
按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。
例如:在1MHz测试频率时,要配250µH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1µH电感器等。
介电常数介质损耗因数试验仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
固体材料介电常数介质损耗测试仪
详细摘要:固体材料介电常数介质损耗测试仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
材料介电常数测定仪
详细摘要:材料介电常数测定仪
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数介质损耗因数测定仪
详细摘要:工作特性
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
AC
频率范围25kHz~10MHz100kHz~10MHz
固有误差≤5%±满度值的2%≤5%±满度值的2%
工作误差≤7%±满度值的2%≤7%±满度值的2%
频率范围10MHz~60MHz10MHz~160MHz
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
材料介电常数介质损耗因数测定仪
详细摘要:介电常数介质损耗测试仪特点:

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数介质损耗因数测试仪
详细摘要:介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作频率范围:50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器
Q值
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数试验机
详细摘要:介电常数介质损耗测试仪电感器:
按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。
例如:在1MHz测试频率时,要配250µH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1µH电感器等。

高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议
介电常数和介质损耗测定仪
详细摘要:仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。
2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成
2.1.概述:高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电
产品型号:GDAT-A所在地:北京 参考价:面议

北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品:绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪 化工仪器网 设计制作,未经允许翻录必究.Copyright(C) https://www.chem17.com, All rights reserved.

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