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详细摘要：介质损耗角测定仪高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：塑料岩石介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪生厂商 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：绝缘材料介质损耗介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：绝缘材料介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数相对电容率测试仪工作原理本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数 产品型号：gdat-a所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗角测量仪工频 BQS-37a型高压电桥采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。 产品型号：BQS-37A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：工频介电常数介质损耗测试仪 北广公司核心技术由北广公司严格组建 并有专业的仪器美工专注外观设计 从仪器的研发、生产、销售、售后等 *承建企业体系 。并且研发更的试验控制仪器 控制方式*升级 现研发的微机控制仪器、控制方式采用无线蓝牙*技术 并且可选用 232 / USB/亚太局域网络端口，已是全国* * 产品型号：GDAT-a所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：高频介电常数介质损耗因数正切值测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪介质损耗因数正切值测试仪 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：绝缘材料介电常数介质损耗测试仪： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：塑料介电常数测试仪介质损耗测试仪 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×1 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数和介质损耗一体测试仪装置： 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 装置插头间距：25mm±0.1mm 装置损耗角正切值:≤2.5×10 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：高频介电常数介质损耗因数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档； c．标称误差 频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2% 频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：陶瓷塑料介电常数介质损耗测试仪实验原理: 介电体（又称电介质）Z基本的物理性质是它的介电性，对介电性的研究不但在电介质材料的应用上具有重要意义，而且也是了解电介质的分子结构和激化机理的重要分析手段之一，探索高介电常数的电介质材料，对电子工业元器件的小型化有着重要的意义。介电常数（又称电容率）是反映材料特性的重要参量，电介质极化能力越强，其介电常数就越大。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。 同样，由测微圆筒线性电容器的电容量 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品：绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪
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