原位扫描电镜(SEM)的应用原理主要是利用电子成像来观察样品的表面形貌。当一束极细的高能电子束在试样上扫描时,与试样相互作用产生各种物理信息,如二次电子、背散射电子、特征X射线和连续谱X射线、透射电子等。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
SEM的分辨率高于光学显微镜的分辨率,因为电子的波长远小于光的波长。此外,SEM还可以进行样品表面的元素分析,如C、S、N等元素的分布情况。
在具体应用中,原位扫描电镜可以用于材料科学、生物学、医学等领域的研究和质量控制。例如,在材料科学领域,SEM可以观察金属、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微观结构;在生物学领域,SEM可以观察细胞和组织的表面形貌和结构;在医学领域,SEM可以用于疾病诊断和药物研发等。
原位扫描电镜的应用原理是通过电子束与样品相互作用产生各种物理信息,对这些信息进行接收、放大和显示成像,从而获得试样表面形貌和结构的信息。
免责声明
- 凡本网注明“来源:化工仪器网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-化工仪器网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:化工仪器网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源(非化工仪器网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。