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透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM）是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。 作为实验室常用科学仪器设备，可以清晰地观察到生物样品的纳米级微观内部结构，目前已广泛应用于各类生物学科的分析研究。
影响透射电子显微镜的三个因素分别是：
1、分辨率 2、放大倍数 3、衬度
影响透射电子显微镜的三个因素分别是：
大孔径角的磁透镜，100KV时，分辨率可达0.005nm。实际TEM只能达到0.1－0.2nm，这是由于透镜的固有像差造成的。提高加速电压可以提高分辨率。已有300KV以上的商品高压（或超高压）电镜，高压不仅提高了分辨率，而且允许样品有较大的厚度，推迟了样品受电子束损伤的时间，因而对高分子的研究很有用。但高加速电压意味着大的物镜，500KV时物镜直径45－50cm。对高分子材料的研究所适合的加速电压，最好在250KV左右。
电镜最大的放大倍数等于肉眼分辨率（约0.2mm）除以电镜的分辨率0.2nm，因而在106数量级以上。
a．样品越厚，图像越暗；
b．原于序数越大，图像越暗；
c．密度越大，图像越暗；
其中，密度的影响最重要，因为高分子的组成中原于序数差别不大，所以样品排列紧密程度的差别是其反差的主要来源。
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