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200KV透射电镜Spectra 200 TEM

具体成交价以合同协议为准

公司名称 赛默飞电子显微镜
品牌 FEI/赛默飞
型号
产地
厂商性质 生产厂家
更新时间 2024/8/28 13:41:37
访问次数 923

产品标签

TEM 透射电镜 Spectra 200 TEM 200KV

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原FEI公司，2016年被赛默飞世尔科技收购，成为赛默飞材料与结构分析（MSD) 电镜事业部，是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。我们提供扫描电子显微镜SEM，透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM，结合先进的软件套件，运用广泛的样本类型，通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合，使客户的问题变成有效可用的数据。

展开

扫描电子显微镜，双束电镜，透射电子显微镜，冷冻电镜，X射线光电子能谱仪，三维可视化软件

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价格区间	面议	仪器种类	热场发射
应用领域	环保,化工

200KV透射电镜Spectra 200 TEM

200KV透射电镜Spectra 200 TEM High throughput TEM and STEM microscope for all materials science applications

Key Features

High-resolution STEM imaging performance for all accelerating voltages

High-angle annular dark-field (HAADF) images of GaN and silicon.

Unprecedented sensitivity with the Panther STEM detection system

Advanced STEM imaging capabilities

Electron microscope pixel array detector (EMPAD) image of MoS2.

New possibilities in STEM analytics with Spectra 200 S/TEM

Specifications

Spectra 200 (S)TEM	Probe corrector: Energy spread: 0.4 eV Information limit: 110 pm STEM resolution: 60 pm (136 pm @ 30 kV) Uncorrected: Energy spread: 0.4 eV Information limit: 110 pm STEM resolution: 164 pm
Source	X-CFEG: Ultra-high-brightness cold field emission gun with energy resolution of <0.4 eV Flexible high-tension range from 30 – 200 kV
Analytics and detectors	Super-X/Dual-X EDS options, integrated software, and the Gatan Ultrafast EELS/DualEELS options together provide up to 1000 sp/s of simultaneous EDS and EELS data acquisition Analytics for live peak identification and background fitting during ultra-fast EDS acquisition Symmetric EDS detector design allows for combined tomographic EDS
Available detector options	HAADF detector On-axis solid state, 8 segmented BF and ADF detectors (16 segments in total) Thermo Scientific Ceta 16M Camera (optionally with speed enhancement) Gatan OneView/OneView IS cameras Gatan energy filter series Electron microscope pixel array detector (EMPAD)

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